現(xiàn)有機器故障的常用的顆粒計數(shù)分析方法

光阻技術(shù)分析法：受到重合效應(顆粒重疊)和煙炱顆粒的干擾。因此該方法僅適用于分析在污染控制工業(yè)中與機器內(nèi)部接觸較少的清潔半透明油液。

直接成像技術(shù)：通過使用CCD傳感器處理更大面積上的顆粒來計算重合效應。樣品通過脈沖激光二極管照射，可以將稀釋前樣品的光通量提高到約2%，并克服樣品中煙炱顆粒的影響。

孔阻塞塞柱塞法等技術(shù)：傳統(tǒng)的孔阻塞裝置類似于光學顆粒計數(shù)器，因為其在顆粒物相對低的水平下就會達到量程上限，所以不適合于精確量化機器中嚴重污染磨損的樣品。然而它們在處理含有碳煙或水的油液樣品時更有優(yōu)勢，因為這些污染物可以順利通過孔而不增加信號輸出。這是孔堵塞技術(shù)優(yōu)于光阻擋和直接成像技術(shù)的主要優(yōu)點。